Guevara-Cabezas, Esteban Augusto, Cristian Javier Rocha-Jácome, José Luis Tinajero-León, y Mayra Alejandra Pacheco-Cunduri. «Reliability Assessment in SiC and GaN Power MOSFETs Based Emerging Wide Bandgap Semiconductors Technology from a Systematic Literature Review». Dominio de las Ciencias 8, no. 1 (febrero 24, 2022): 1134–1153. Accedido noviembre 21, 2024. https://dominiodelasciencias.com/ojs/index.php/es/article/view/2627.