Guevara-Cabezas, E. A., C. J. Rocha-Jácome, J. L. Tinajero-León, y M. A. Pacheco-Cunduri. «Reliability Assessment in SiC and GaN Power MOSFETs Based Emerging Wide Bandgap Semiconductors Technology from a Systematic Literature Review». Dominio De Las Ciencias, vol. 8, n.º 1, febrero de 2022, pp. 1134-53, doi:10.23857/dc.v8i1.2627.